Type
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测量方法
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精度等级
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绝对位置值
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测量长度
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LC 182
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绝对位置
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± 5 µm|± 3 µm
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EnDat 2.1
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140 mm4240mm
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LC 183
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绝对位置
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± 3 µm
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EnDat 2.2
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140 mm4240mm
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LC 192F
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绝对位置
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± 5 µm|± 3 µm
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串行接口 Fanuc 01
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140 mm4240mm
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LC 193F
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绝对位置
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± 5 µm|± 3 µm
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串行接口Fanuc 02
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140 mm4240mm
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LC 192M
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绝对位置
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± 5 µm|± 3 µm
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三菱高速串行接口
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140 mm4240mm
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Type
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测量方法
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信号周期
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精度等级
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增量信号
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测量长度(mm)
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LS 177 单场扫描
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增量式
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20µm
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± 5 µm|± 3 µm
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TTL x 5 or x 10
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140至3040
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LS177C单场扫描
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增量式距离编码
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20µm
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± 5 µm|± 3 µm
|
TTL x 5 or x 10
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140 至3040
|
|
|
|
|
|
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LS 176
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增量式
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20µm
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± 5 µm|± 3 µm
|
TTL
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140 至3040
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LS 176C
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增量式距离编码
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20µm
|
±5µm | ±3µm
|
TTL
|
140 至3040
|
LS 187
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增量式
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20µm
|
± 5 µm|± 3 µm
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1 Vpp
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140 至3040
|
LS 187C
|
增量式距离编码
|
20µm
|
± 5 µm|± 3 µm
|
1 Vpp
|
140 至3040
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LS186 / LS186C
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增量式距离编码
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20µm
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± 5 µm|± 3 µm
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TTL / 1 Vpp
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140 至3040
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LF系列增量式光栅尺的栅距更小。因此,特别适用于很高重复精度的应用
Type
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测量方法
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增量信号
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精度等级
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信号周期
|
参考点
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测量长度(mm)
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LF 183
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增量式
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1 VSS
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± 2 µm ± 3 µm
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4 µm
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每50 mm可用磁条选择
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140至3040
|
LF 183C
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增量式
|
1 VSS
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± 2 µm ± 3 µm
|
4 µm
|
距离编码
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140至3040
|
大测量长度
LB系列增量式光栅尺的测量长度可达30米。其测量基准为AURODUR光刻工艺制造的钢带光栅尺。在光栅尺外壳安装好之后,将钢带光栅尺穿入尺座中并进行预紧并将两端固定在机床铸件上。
LC 400系列绝对式直线光栅尺直接提供绝对位置值,测量前无需回零。同时还提供增量信号。同LS 400系列增量式直线光栅尺一样,它精度高并具有可定义的温度特性,特别适用于NC数控机床。
Type
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测量方法
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增量信号
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信号周期
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精度等级
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绝对位置值
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分辨率
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测量长度
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LC 493F
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绝对式
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-
|
-
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± 3µm ± 5µm
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Serial Interface Fanuc 02
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0,01 µm 0,05 µm
|
70至 2040
|
LC 493M
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绝对式
|
-
|
-
|
± 3µm ± 5µm
|
High Speed Serial Interface
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0,01 µm 0,05 µm
|
70至 2040
|
Type
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测量方法
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增量信号
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信号周期
|
精度等级
|
参考点
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测量长度
|
L S487
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增量式
|
1 VPP
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20 µm
|
± 3µm ± 2µm
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一个或带距离编码
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50至 1220
|
LS477
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增量式
|
TTL
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4µm/2µm
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± 3µm ± 2µm
|
一个或带距离编码
|
70至2040
|
LF系列增量式光栅尺的栅距更小。因此,特别适用于很高重复精度的应用。
Type
|
测量方法
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增量信号
|
信号周期
|
精度等级
|
参考点
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测量长度
|
L F481
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增量式
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1 VPP
|
4 µm
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± 3µm ± 2µm
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一个或带距离编码
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50至 1220
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LS600 LS300系列增量式直线光栅尺用于简单定位应用,例如手动操作机床。
Type
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测量方法
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增量信号
|
信号周期
|
精度等级
|
参考点
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测量长度
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L S388C
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增量式
|
1 VPP
|
20 µm
|
± 3µm ± 2µm
|
一个或带距离编码
|
70至 1240
|
L S328C
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增量式
|
TTL
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20 µm
|
± 10µm
|
距离编码
|
70至 1240
|
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